Étude du comportement non linéaire et de la dégradation de transistors à effet de champ faible bruit soumis à une surcharge microonde

Download or read book Étude du comportement non linéaire et de la dégradation de transistors à effet de champ faible bruit soumis à une surcharge microonde written by Didier Lazaro and published by . This book was released on 1994 with total page 235 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'influence de surcharges micro-ondes de fort niveau sur des transistors à effet de champ faible a été étudiée. Un banc de test de caractérisation statique et dynamique du composant avant at après chaque impulsion a été mis au point au CERT/DERMO et a permis de mettre en évidence tois phases de dégradation (temporaire, graduelle et catastrophique) ainsi qu'une phase de guérison apparente. Des différences de comportements sont apparues entre HEMTs et MEFETs inhérentes à la technologie du transistor. L'influence de surcharges micro-ondes permanentes a également été étudiée expérimentalement et théoriquement à l'aide d'une modélisation non linéaire qui décrit le comportement du composant actif jusqu'à des niveaux d'entrée de 500 mW. L'importance de l'environnement électrique du transistor a été mise en évidence par ses effets sur le fonctionnement non linéaire du composant et sur sa puissance critique de dégradation.